产品可靠性
1.高温加速寿命试验 (HTOLT) (125°C/5V/1000hrs )
2.静电防护能力试验 (HBM/MM: 8KV/200V)
3.拴锁效应试验（Latch-up Test）(I>100mA)
封裝可靠性
1.可靠性预处理试验 (TCT/Bake/Moisture Soak/IR re-flow)
2.压加速试验 (PCT) (121°C/100%RH/168hrs)
3.温度循环试验 (TCT) (-65°C~150°C/ 200cycles)
4.温湿度试验 (THST) (85°C/85%RH/1000hrs)
5.高温储存试验 (HTS) (150°C/1000hrs)
6.沾锡性试验